光电二极管型CMOS有源像素传感器（APS）中的噪声主要源于感测节点[1]上的复位（kTC）噪声，因为为二维阵列实现像素内相关双采样有一定的难度。图 1 是光电二极管 APS 的像素示意图。集成在光电二极管检测节点（SENSE）上的信号是通过在重置脉冲（RST）前后测量在列总线（COL）上的电压并取其差额来计算的。光电二极管型像素可通过“软复位”技术实现低于 kTC 的噪声。软复位是指将 n 沟道复位晶体管的漏极和栅极保持在相同的电位进行复位，从而导致感测节点用亚阈值 MOSFET 电流进行复位。然而，仅能以较高的图像滞后和低亮、非线性为代价才能实现降噪。在本文中，我们提供了一种能解释噪声行为的分析、展示了在弱光条件下性能下降的证据，并描述了消除非线性和滞后但又不增加噪声的新像素。