我们提出了一种 90nm 测试芯片，其中将邻近通信、采用外部激光器和光电二极管的光学器件，以及 CML 电子器件集成在单个 CMOS 芯片上。该芯片可以通过其三个互连接口的任意组合，以每秒数千兆位的速率路由数据。坚固耐用且灵活的非时钟式序列数据路径允许对每个路径进行独立的时序和余量表征。邻近通信在两个芯片之间建立高带宽、高密度的通道。