• 定制像素测试芯片
  • 3T 和 4T 像素设计
  • 用于高动态范围操作的条件复位电路
  • 片上 10 位 ADC，用于串行数字输出
  • 多种测试结构
  • 1.8V 逻辑电源
  • 3.3 V 模拟电源
  • 模拟输出
  • 0.18µm CIS 工艺